在本系列的前两篇文章中，我们讨论了RTO示波器进行EMI排查所能够提供的各项功能。在这篇文章中，让我们看下使用近场探头检测EMI干扰的通用准则。在研发后期进行的一致性测试所采用的远场测试并不能够在问题根源定位中提供多少帮助，这使得工程师面对问题电路无从下手。因此，定位和确定EMI问题根源的能力始终是排查任何EMI问题的重中之重。

 

近场探头，又称嗅探探头，已经被广泛地用于辐射源的识别中。它们在探测中起到天线的作用，能够检测到从被测件中辐射出来的近场的电场或磁场骚扰信号。这有助于工程师缩小排查范围，并尽可能地聚焦在骚扰泄露点处。在这种情况下，精度或与远场测试结果的相关性就显得不是那么重要。

 

 

图1：通过在问题电路附近探查扫描，你可以很容易地观察到当探头靠近辐射泄露点时在频域上出现的频谱尖峰

 

近场测试能够展现出当前情况下是何种类型的电磁场占主导以及骚扰源辐射出来的场强，尽管这只是相对的结果。一般来说，越接近源头，所探测到的场强会越大。这就给排查的着手点提供了一个很好的指引。现在我们来讨论下使用近场探头检测EMI问题的一般方法。

 

用好你的模拟前端

 

通常通过探头耦合进来的辐射骚扰都很微弱，需要使用小到mV级别的档位进行测量。因此你的示波器拥有一个高灵敏度和高动态范围的模拟前端就显得尤为重要。记得随时调整你示波器的垂直档位，让你的波形尽可能充满屏幕。这样才能够保证在进行信号捕获时，能用满ADC的量程，避免出现削波的现象。

 

一般情况下，垂直档位的设置是先从能够检测到微弱信号的低档位开始(如1mV/格~4mV/格)，然后根据信号的特点调整到一个更高的档位。这时同样需要确保设备能够在如此之高的灵敏度下，捕获所需带宽的信号。